高温阻断试验台
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高温阻断试验台
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 高温阻断试验台

系统概述

交流阻断(或反偏)耐久性试验是在一定温度下,对半导体器件施加阻断(或反偏)电压,按照规定的时间,从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。        

一般情况下,此项试验是对器件在结温(Tjm ℃)和规定的 交流阻断电压或反向偏置电压的两应力组合下,进行规定时间的 试验,并根据抽样理论和失效判定依据,确认是否通过, 同时获取相关试验数据。       

该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC标准试验要求。可供半导体器件配以适当的温度可控装置, 作交流阻断(或反偏)耐久性/ 筛选试验。能满足IGBT进行高温反 偏耐久性试验、高温漏电流测试(HTIR)和老炼筛选。

系统组成

漏电流保护回路

在每一试品试验回路中都配置有0.1A的保险丝,当试品在试验期内发 生劣化或突然击穿或转折,保险丝将熔断,设备面板上的相应工位的 氖灯点亮示警,同时蜂鸣器报警提示。

试验电压保护回路

试验电压由衰减板衰减取样后反馈到控制单元,通过峰保器输出与电 压设定值比较,当试验电压高于电压保护设定值时,过压报警器响, 同时保护继电器动作切断高压输出。

高压回路

由电源开关、控制继电器、自藕调压器、高压变压器、波形变换电路 组成,产生规定的试验电压并通过组合高压线排,接入试品工位。

电特性参数测试回路  

试验电压由电压取样回路,经采集、保持 电路送到设备的数字电压表显示;

试品漏电流对每一试品漏电流独立采样,通 过设备上的波段开关分别进行转 换,传送到数字电流表显示。

技术指标

试验电压

VDRM.VRRM/VRRM   300V ~ 4000V 连续可调, 50HZ工频

试验电流

IDRM.IRRM/IRRM   1.0 mA ~200.0mA

试验温度

室温~150℃;温度均匀性125℃±3℃; 温度波动度±0.5℃

试验工位

10工位

试验容量

80×16=1280位

加电方式

 

器件试验参数从器件库中导入,ATTM自动加电试验 方式,可单通道操作;老化电源可根据设定试验电压 和上电时间程控步进加载

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