浪涌电流测试仪 半导体研发
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浪涌电流测试仪 半导体研发
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一、产品简介

浪涌电流测试仪,是二极管等相关半导体器件测试的重要检测设备,该设备具有如下特点:

1、该系统的测试控制完全采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。

2、该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理。

3、该套测试设备主要由以下几个单元组成:

   a、浪涌测试单元

   b、阻断参数测试单元

   c、计算机控制系统

二、技术条件

2.1 环境要求:

1、环境温度:8—35℃

2、相对湿度:于75%

3、大气压力:86Kpa—106Kpa

4、海拔高度:1000米以下

5、电网电压:AC220V±10%无严重谐波

6、电网频率:50Hz±1Hz

7、电源功率:小于5KW

8、供电电网功率因数:>0.9

2.2主要技术指标:

2.2.1浪涌测试单元

a.通态不重复浪涌电流范围:30~2000A(可选到20000A),分辨率1A,精度<2%±1

b.浪涌电流底宽: 10ms正弦半波,偏差小于±0.2ms(可选1mS.2mS.8.3mS等)

c. 重复浪涌电流时间(可设定):2S~10S

d.浪涌电流重复次数:1~100次,可设定

e.浪涌电流下的压降测试(仅对正弦波,可选方波)

f.浪涌波形和压降波形显示和保存(仅对正弦波,可选方波)

g  10uS方波电流范围100-2000A,分辨率1A,精度<3%±1(可选5000A)

2.2.2阻断测试

a.反向电压:100V~1800V可调 

b.反向电压重复频率:DC直流

c.漏电流0.01~2mA,分辨率0.001mA,精度满量程的±5%

e.测试方式:自动测试;

g,适合封装:TO-220、TO-247、TO-3P

2.2.3加热功能(可选功能):显示温度:0-180℃

控温范围:90-180

               90-125  精度误差1.5%±1

               125-150℃精度误差1%±1

               150-180℃精度误差2%±1

 

 

三、功能概述

3.1测试范围

该套测试设备主要可测试以下器件:

封装:TO-220、TO-247、TO-3P,(其它封装可更换测试夹具工装或可用连线方式)

手动安装测试器件

3.2计算机控制系统

计算机控制系统是该设备的中心控制单元,设备的所有工作程序,工作时序,开关的动作状态,数据的采集等均由计算机完成。

计算机采用的是工业控制机,具有抗电磁干扰能力强,排风量大等特点。

四、面板说明

机柜尺寸:800*800*1800带操作台板

(供应给上海半导体器件研发)

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