晶闸管门/阻断特性测试系统智盈电气半导体测试【818Y】

晶闸管门/阻断特性测试仪是可用于测量晶闸管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRMVGT、IGT、 IH以及二管的VRRM、IRRM参数以及其它半导体器件的相关参数测试的设备。它的测试方法符合GB/JB/T7626-2013标准。

该测试台具有漏电流自动保护功能，过电压自动保护功能。阻断电压和漏电流均采用数字表显示，读数准确、直观。门特性测试仪是专为测试晶闸管的门参数而设计的，是晶闸管出厂的设备。该测试台具有测试精度高、测试操作方便、稳定性好等优点。

技术指标

阻断特性	输出峰值漏电流	低档：1-10mA±3%，分辨率：0.1mA /High-grade 10-100mA±3%，分辨率：1mA 手动切换高低档
输出峰值电压	0.20-5.0kV±3%，分辨率：10V
保护电流	0.2-100mA±5%，面板设定
测试频率	50Hz Or 5Hz，手动切换
门特性	维持电流	1-250mA±2mA、分辨率：1mA
门触发电压	：0.20-5.00V±5% 分辨率：0.02V；低档：0.10-2.50V±5% 分辨率：0.01V；测试频率：单次: single time
门触发电流	1-500mA±5% 分辨率：2mA； 1-250mA±5% 分辨率：1mA；测试频率：单次: single time
电压调节方式	手动切换正反向测试
维持冲击	0、20A、30A、40A分四档供选择